Joint Test Action Group

Le JTAG pour Joint Test Action Group est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture ». Le JTAG a été normalisé en 1990.

Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test).

Principe

La technique de Boundary-Scan (littéralement, scrutation des frontières) est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques. Elle consiste à donner un accès auxiliaire aux broches d'entrée-sortie des composants numériques fortement intégrés.

Initialement, le Boundary Scan était uniquement destiné au test des courts-circuits et de la continuité entre puces compatibles. Connaissant le schéma électrique de la carte électronique, on applique un ensemble de signaux logiques (appelé vecteur de test) sur les broches d'entrée de certains composants (depuis la chaîne Boundary Scan interne), et on relève les niveaux logiques sur les broches de sortie des composants qui y sont connectés, pour s'assurer qu'ils correspondent aux valeurs attendues. On peut ainsi s'assurer de la bonne qualité des pistes du circuit imprimé et des soudures.

Pour cela, chaque broche d'entrée-sortie n'est pas connectée directement à l'intérieur du composant numérique, mais à travers une « cellule JTAG » permettant de la piloter indépendamment de sa fonction initiale. Il est ainsi possible de la configurer en entrée (haute-impédance) ou en sortie ( niveau logique haut ou bas). Cependant chaque type de broche a un nombre de cellules qui lui est associé. Les broches d'entrée et de sortie n'ont besoin que d'une cellule chacune. Les broches tristates ayant besoin de deux entrées pour fonctionner (entrée de signal et activation de l'état haute impédance), il faudra donc deux cellules pour pouvoir les tester. Les broches I/O (pour Input/Output, ou encore Entrée/Sortie) sont quant à elles composées d'une sortie ainsi que d'une entrée qui peut être placée en haute impédance. Étant donné ce qui a été dit précédemment, pour mettre à l'état haute impédance, il y a besoin de deux cellules. Il faudra donc en tout pas moins de trois cellules pour pouvoir tester une broche I/O. Il est à noter que les cellules ne sont pas utilisées pour tester les broches d'alimentation, d'horloge et de reset. Les cellules sont connectées entre elles par un bus série faisant le tour de la puce (d'où la notion de « frontière » ou Boundary), équivalent à un grand registre à décalage de taille égale ou supérieure au nombre de broches d'entrée-sortie du composant. On appelle ce registre BSR, pour Boundary Scan Register. Le TAP Controller, qui reçoit les signaux JTAG de l'extérieur, permet d'activer et de piloter les cellules selon une séquence normalisée [1].

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